厚陶瓷测量工位
厚陶瓷测量工位原则
不同于薄膜应变计，惠斯通电桥会直接贴于陶瓷薄膜上。由于外部压力所导致的薄膜弯曲会引起惠斯通电桥电阻的变更，它将会转换为跟压力成正比的信号。使用陶瓷可对腐蚀介质实现更高的耐化学腐蚀性。其测量范围高于薄膜 DMS 工艺，但其测量精度未达到它的水平。
厚陶瓷测量工位原则
不同于薄膜应变计，惠斯通电桥会直接贴于陶瓷薄膜上。由于外部压力所导致的薄膜弯曲会引起惠斯通电桥电阻的变更，它将会转换为跟压力成正比的信号。使用陶瓷可对腐蚀介质实现更高的耐化学腐蚀性。其测量范围高于薄膜 DMS 工艺，但其测量精度未达到它的水平。